Das Whitepaper vergleicht verschiedene HPEM-Umgebungen und analysiert deren Einkopplung in ein geschirmtes elektronisches System anhand von experimentellen Störfestigkeitstests und numerischen Feldsimulationen. Zudem werden die Zusammenhänge zwischen Signalform, Frequenzspektrum, Gehäuseeigenschaften und den beobachteten Störwirkungen detailliert dargestellt.
Die dargestellten Messergebnisse und Simulationen schaffen eine fundierte Grundlage für die Bewertung elektromagnetischer Risiken und die Entwicklung robuster Schutzkonzepte für geschirmte elektronische Systeme.
Kapitelübersicht
- Bedeutung elektromagnetischer Hochleistungsumgebungen (HPEM)
- Relevanz elektromagnetischer Störfestigkeit für kritische Infrastrukturen
- Unterschied zwischen klassischer EMV und HPEM-Bedrohungen
- Einordnung des nuklearen elektromagnetischen Pulses (NEMP) als Referenzszenario
- Überblick über verschiedene HPEM-Signalformen
- Aufbau des untersuchten Testsystems
- Ergebnisse der Störfestigkeitsuntersuchungen
- Numerische Verifikation der Messergebnisse
- Zentrale Erkenntnisse für die Praxis
Autoren
Dr.-Ing. Sven Fisahn,
Wehrwissenschaftliches Institut für Schutztechnologien – ABC-Schutz (WIS), Munster
Dr.-Ing. Sven Fisahn beschäftigt sich mit der Analyse elektromagnetischer Bedrohungen, Störfestigkeitsuntersuchungen sowie Schutzkonzepten für elektronische Systeme und kritische Infrastrukturen.
Prof. Dr.-Ing. Heyno Garbe,
Leibniz Universität Hannover, Komiteevorsitzender EMV Kongress
Prof. Dr.-Ing. Heyno Garbe zählt zu den prägenden Persönlichkeiten der Elektromagnetischen Verträglichkeit im deutschsprachigen Raum. Als Professor der Leibniz Universität Hannover und Vorsitzender des EMV Kongresskomitees beschäftigt er sich seit vielen Jahren mit den Schwerpunkten EMV, elektromagnetische Feldtheorie, Kopplungsmechanismen sowie numerische Simulationsverfahren.
Weiterführende Links:
Zur EMV Expo 2027
Zu den EMV Workshops 2027
Hinweis: Das vollständige Paper ist Teil der offiziellen EMV 2026 Proceedings.