Anhand eines praxisnahen Anwendungsbeispiels wird erläutert, wie das Oberflächenäquivalenzprinzip zur Erstellung simulationsfähiger Quellenmodelle aus Messdaten genutzt werden kann. Darüber hinaus werden die Anforderungen an die Messtechnik, Nahfeld-zu-Fernfeld-Transformationen sowie die Analyse elektromagnetischer Kopplungseffekte behandelt.
Die vorgestellte Methodik ermöglicht eine realitätsnahe Bewertung elektromagnetischer Emissionen und Wechselwirkungen bereits in frühen Entwicklungsphasen und unterstützt damit eine effizientere EMV-Analyse und Systemoptimierung.
Kapitelübersicht
- Bedeutung von Nahfeldanalysen für moderne EMV-Untersuchungen
- Grundlagen des Oberflächenäquivalenzprinzips (Huygens-Prinzip)
- Erzeugung äquivalenter Nahfeldquellen aus Messdaten
- Anforderungen an Nahfeldscanner und phasenkohärente Messtechnik
- Simulation und Vermessung eines DC-DC-Abwärtswandlers
- Co-Simulation von Schaltung und elektromagnetischem Feldmodell
- Durchführung und Bewertung von Nahfeldmessungen
- Nahfeld-zu-Fernfeld-Transformation und Vergleich mit Simulationen
- Einfluss von Signal-Rausch-Verhältnissen auf die Ergebnisqualität
- Analyse elektromagnetischer Wechselwirkungen mit IoT-Modulen
- Einbettung gemessener Nahfeldquellen in Fahrzeugmodelle
- Potenziale und Grenzen des Verfahrens für zukünftige EMV-Anwendungen
Autor
Dominik Schröder,
Fraunhofer ENAS, Deutschland
Dominik Schröder studierte Elektrotechnik an der Universität Paderborn und schloss sein Masterstudium 2016 ab. Bereits seit 2011 arbeitet er am Fraunhofer ENAS, zunächst als studentischer Mitarbeiter mit Schwerpunkt Wireless Power Transfer. Seit 2017 ist er als wissenschaftlicher Mitarbeiter tätig und forscht im Bereich EMV-Nahfeldscanner sowie Simulationsmethoden. Aktuell promoviert er auf dem Gebiet des elektromagnetischen Nahfeldscannings.
Weiterführende Links:
Zur EMV Expo 2027
Zu den EMV Workshops 2027
Hinweis: Weitere Paper gibt es in den offiziellen EMV 2026 Proceedings.